Extras din curs
NANOMATERIALE
Curs 5
Metode de caracterizare a
materialelor nanostructurate
B. MICROSCOPIA DE SCANARE
(Scanning probe microsopy
SPM)
Generalităţi
- Microscopul de scanare cu efect de tunel (STM) a fost
dezvoltat de către Dr. Gerd Binnig şi colaboratorii în 1981,
în cadrul laboratorului de cercetare IBM Zurich,
Rueschlikon, Elveţia;
- Binnig şi Rohrer au primit premiul
Nobel pentru fizică în 1986 pentru
această descoperire;
Sigla companiei IBM scrisă cu atomi de xenon
Generalităţi
- Microscopul de scanare cu efect de tunel (STM) a fost
dezvoltat de către Dr. Gerd Binnig şi colaboratorii în 1981,
la laboratorul de cercetare IBM Zurich, Rueschlikon,
Elveţia;
- este primul instrument
capabil să obţină imagini 3D
ale suprafeţelor solide, cu
rezoluţie la nivel atomic;
- microscoapele STM pot fi
folosite pentru a studia Suprafața unei probe de siliciu, mărită
exclusiv suprafeţele care au
un grad oarecare de
conductibilitate.
de 20 de milioane de ori, astfel încât să
permită vizualizarea atomilor;
imagine prelucrată computerizat
Generalităţi
- Aplicații:
- inducerea unor noi proprietăţi la nivel nanometric, prin:
- ardere la nivel nano;
- inducere de reacţii chimice la nivel nano;
- nanoprelucrare mecanică.
Atomii de fier au fost poziţionaţi individual
astfel încât să formeze grupări cu diverse
geometrii pe o suprafaţă de cupru
Generalităţi
- Pe baza design-ului STM, în 1985 Binnig şi colaboratorii
au dezvoltat microscopul de forţă atomică (AFM);
- Măsoară forţe foarte mici (mai puţin de 1nN) prezente
între vârful AFM şi suprafaţa probei de examinat.
- poate fi folosit pentru examinarea tuturor
tipurilor de suprafeţe, fie ele conductoare
sau izolatoare;
- este folosit pentru măsurători normale şi
topografice la scară micro sau nano.
Preview document
Conținut arhivă zip
- Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate.pdf