X-Ray Photoelectron Spectroscopy

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) 

Spectroscopia de fotoelectroni cu raze X

sau ESCA (Electron Spectroscopy for chemical analysis)

Analize de suprafataStudiul straturilor superficiale ale materialelor (<100 ).

Spectroscopii de electroni

XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy

AES: Auger Electron Spectroscopy

EELS: Electron Energy Loss Spectroscopy

Introducere in X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Introducere in X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Ce este XPS?- Teorie generala

Cum se pot identifica elementele si compusii?

Echipamente de tip XPS

Exemple de analiza a materialelor prin XPS

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), de asemenea cunoscuta ca Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA) este o tehnica utilizata pe scara larga pentru a investiga compozitia chimica a suprafetelor

X-ray Photoelectron spectroscopy, bazata pe efectul fotoelectronic,1,2 a fost dezvoltata in anii 1960 de Kai Siegbahn si grupul sau de cercetare de la University of Uppsala, Sweden.3

Liniile spectrale XPS se identifica prin orbitalul de pe care fotoelectronul este ejectat (1s, 2s, 2p, etc.).

Electronul fotoejectat are energia cinetica:

KE=hv-BE-

Dupa acest proces, atomul va elibera energie prin emiterea unui electron Auger.

Echipamentul XPS masoara energia cinetica a tuturor electronilor colectati. Semnalul electronilor include contributia atat a fotoelectronului emis cat si a liniilor electronice Auger.